著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
伏見 浩 and 和田 一実,ＧａＡｓ系ＨＢＴの信頼性と結晶欠陥の相関,電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌）,03854221,一般社団法人 電気学会,2008,128,6,838-845,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679582722048,https://doi.org/10.1541/ieejeiss.128.838