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上田 完次 and 平野 智之 and 傅 恵南 and 真鍋 圭司,走査型トンネル顕微鏡および分子動力学法によるグラファイトの原子レベル材料除去機構の考察,精密工学会誌,09120289,公益社団法人 精密工学会,1998,64,11,1653-1657,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282679742284544,https://doi.org/10.2493/jjspe.64.1653