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- 一村 信吾
- 産業技術総合研究所
書誌事項
- タイトル別名
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- Standardization of Measurement and Characterization for Nanotechnology: Recent Trend and Roadmap
- 序論 ナノ計測の標準化 : 最近の動向とロードマップ
- ジョロン ナノ ケイソク ノ ヒョウジュンカ : サイキン ノ ドウコウ ト ロードマップ
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収録刊行物
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- Journal of the Vacuum Society of Japan
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Journal of the Vacuum Society of Japan 56 (7), 249-251, 2013
一般社団法人 日本真空学会
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詳細情報
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- CRID
- 1390282680271248128
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- NII論文ID
- 130003369632
- 10031184199
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- NII書誌ID
- AA12298652
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- BIBCODE
- 2013JVSJ...56..249I
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- COI
- 1:CAS:528:DC%2BC3sXhsFSksrvJ
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- ISSN
- 18824749
- 18822398
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- NDL書誌ID
- 024760273
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles