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小田 正志 and 岩崎 慶 and 高木 佐恵子 and 吉本 富士市,ポイントサンプルジオメトリのための表面下散乱の高速計算法,画像電子学会研究会講演予稿,02853957,一般社団法人 画像電子学会,2005,04-07,0,41-46,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282680576119424,https://doi.org/10.11371/wiieej.04-07.0_41