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蔭山 博之 and 高原 晃里 and 井出 純子 and 半田 克巳,NEXAFSによる全固体Li電池用硫化物ガラスの充放電時の劣化挙動の解析,日本セラミックス協会 年会・秋季シンポジウム 講演予稿集,,公益社団法人 日本セラミックス協会,2005,2005F,0,168-168,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282680593395072,https://doi.org/10.14853/pcersj.2005f.0.168.0