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太田 康 and 小林 中,マイクロプローブホール電界イオン顕微鏡を用いた単一輝点内部のイオン生成率分布の精密測定,表面科学学術講演会要旨集,,公益社団法人 日本表面真空学会,2016,36,0,86,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282680656520704,https://doi.org/10.14886/sssj2008.36.0_86