著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
小島 直樹 and 巨 陽,J012015 ストレスマイグレーションによるアルミナノワイヤの作製及び電気特性の評価に関する研究([J012-01]電子情報機器、電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(1)),年次大会,2424-2667,一般社団法人 日本機械学会,2013,2013,0,_J012015-1,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282680818004096,https://doi.org/10.1299/jsmemecj.2013._j012015-1