著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
田中 智也 and 松井 南帆人 and 安西 宏晃 and 阪上 隆英 and 久保 司郎,"OS0320 テラヘルツ電磁波イメージング計測に基づく非破壊検査(OS3-4 電磁気,OS-3 非破壊評価と構造モニタリング2)",M&M材料力学カンファレンス,2424-2845,一般社団法人 日本機械学会,2011,2011,0,_OS0320-1_,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282680848085504,https://doi.org/10.1299/jsmemm.2011._os0320-1_