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岡本 学 and 青木 雄一 and 増田 淳 and 土井 卓也 and 志水 一平 and 平川 琢己,"2-1 急速温度サイクル試験による結晶系太陽電池モジュールの劣化加速検討(セッション2「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面(2)」)",信頼性シンポジウム発表報文集,2424-2357,日本信頼性学会,2010,2010Autumn.23,0,25-28,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282681107446400,https://doi.org/10.11348/reajsym.2010autumn.23.0_25