著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
大渕 博宣 and 田渕 雅夫 and 竹田 美和,Ｘ線吸収微細構造（ＸＡＦＳ）による表面，界面の解析 ＸＡＦＳ 測定の半導体への応用,表面科学,03885321,公益社団法人 日本表面科学会,2002,23,6,367-373,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282681432534016,https://doi.org/10.1380/jsssj.23.367