著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI) 米山 明男 and 馬場 理香 and 竹谷 敏 and 兵藤 一行 and 武田 徹,X線干渉計を用いたZeffイメージング法の開発,顕微鏡,13490958,公益社団法人 日本顕微鏡学会,2015-04-30,50,1,67-70,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282752322414976,https://doi.org/10.11410/kenbikyo.50.1_67