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広瀬 颯 and 森 裕章 and 加藤 太一郎 and 酒瀬川 英雄 and 廣瀬 貴規 and 谷川 博康 and 佐藤 紘一,陽電子消滅法を用いた低放射化フェライト鋼F82Hのレーザ溶接部における格子欠陥率の評価,溶接学会全国大会講演概要,,一般社団法人 溶接学会,2019,2019f,0,66-67,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390283659831337088,https://doi.org/10.14920/jwstaikai.2019f.0_66