著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
窪田 智之 and 櫻山 和浩 and 白松(磯口) 知世 and 高橋 宏知,神経細胞の分散培養系の逸脱検出特性,電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌）,03854221,一般社団法人 電気学会,2021-05-01,141,5,661-667,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390287907269771904,https://doi.org/10.1541/ieejeiss.141.661