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永村 直佳 and 松村 太郎次郎 and 永田 賢二 and 赤穂 昭太郎 and 安藤 康伸,計測インフォマティクスを応用したX線顕微分光によるナノ表界面分析,表面と真空,24335835,公益社団法人 日本表面真空学会,2021-08-10,64,8,382-389,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390288990092393856,https://doi.org/10.1380/vss.64.382