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永瀬 成範 and 高橋 言緒 and 清水 三聡,GaN/AlN共鳴トンネルダイオードで生じる双安定性の劣化メカニズム,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2015-02-26,2015.1,0,3053-3053,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390296066524767232,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2015.1.0_3053