著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
𠮷田 拓弥 and 榎本 利章 and 阿部 早苗 and 山口 博,サンプリングモアレ法を用いたアンダーフィル材料の内部ひずみ測定,マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集,2434-396X,一般社団法人 エレクトロニクス実装学会,2022,32,0,171-174,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390297305329529856,https://doi.org/10.11486/mes.32.0_171