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大熊 学 and 若井 史博,放射光X線CT技術を駆使した高信頼性電子デバイス材料設計のための3次元解析：積層セラミックコンデンサ（MLCC）の電極構造形成プロセス,粉体および粉末冶金,0532-8799,一般社団法人 粉体粉末冶金協会,2023,advpub,0,,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390298200983257088,https://doi.org/10.2497/jjspm.23-00059