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桐野 嵩史 and 景井 悠介 and 岡本 学 and James Harries and 吉越 章隆 and 寺岡 有殿 and 箕谷 周平 and 中野 佑紀 and 中村 孝 and 細井 卓治 and 渡部 平司 and 志村 孝功,放射光XPSによるSiO<sub>2</sub>/4H-SiC構造の伝導帯オフセット評価,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2010-03-03,2010.1,0,3560-3560,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390299450896077568,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2010.1.0_3560