著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
野末 秀和 and 丸山 洋一,X線半導体デバイスとマッピング測定,精密工学会誌,0912-0289,公益社団法人 精密工学会,2024-05-05,90,5,408-411,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390300058783478912,https://doi.org/10.2493/jjspe.90.408