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倉橋 渉太 and 梅田 恭誠 and 滝川 塁 and 内藤 正路 and 碇 智徳,走査トンネル顕微鏡によるSi(100)面上のCuPc吸着過程に関する研究,表面科学学術講演会要旨集,,公益社団法人 日本表面真空学会,2018,2018,0,287,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390564238044661632,https://doi.org/10.14886/sssj2008.2018.0_287