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高村 真琴 and 谷保 芳孝,数層h-BNの散乱型走査近接場光学顕微鏡によるナノスケール層数評価,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2020-08-26,2020.2,0,2306-2306,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390573407640347648,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2020.2.0_2306