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高野 幸喜 and 山末 耕平 and 加藤 俊顕 and 金子 俊郎 and 長 康雄,走査型非線形誘電率顕微鏡による機械剥離WSe<sub>2</sub>/SiO<sub>2</sub>と架橋型WSe<sub>2</sub>のキャリア分布の観察,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2020-02-28,2020.1,0,3477-3477,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390573715144284160,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2020.1.0_3477