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付 巍 and 小林 藍 and 矢野 裕司 and 原田 信介 and 櫻井 岳暁,Stress distribution at SiO<sub>2</sub>/4H-SiC interface studied by Confocal Raman Microscopy,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2018-03-05,2018.1,0,3666-3666,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390575130486100992,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2018.1.0_3666