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大鷹 豊 and 島添 健次 and 小山 晃広 and 三好 寿顕 and 飯本 武志 and 高橋 浩之 and 井上 一雅 and 福士 政広,酸化物半導体のX線耐性の基礎研究,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2017-03-01,2017.1,0,491-491,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390575661592408704,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2017.1.0_491