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牧野 伸哉 and 大井 慎太郎 and 山崎 泰誠 and Asubar Joel and 徳田 博邦 and 葛原 正明,電極プロセスがAlGaN/GaN HEMTの耐圧に与える影響,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2016-09-01,2016.2,0,2897-2897,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390576656681934720,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.2.0_2897