著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
村上 竜平 and 村松 康司 and 小林 正治,姫路城いぶし瓦の劣化評価（2）；SEM-EDXによる表面炭素膜の膜厚測定,Ｘ線分析の進歩,0911-7806,公益社団法人 日本分析化学会 X線分析研究懇談会,2014-03-31,45,0,173-180,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390579222505740800,https://doi.org/10.57415/xshinpo.45.0_173