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小野 幸子 and 前田 将克 and 逢坂 哲彌 and 小岩 一郎 and 金原 隆雄 and 見田 充郎 and 橋本 晃 and 澤田 佳宏,ゾルゲル法によるPZT薄膜の構造および強誘電体特性に及ぼす仮焼成温度の効果,電気化学および工業物理化学,13443542,公益社団法人 電気化学会,1996-11-05,64,11,1166-1173,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390845702279839360,https://doi.org/10.5796/kogyobutsurikagaku.64.1166