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韓 天陽 and 伊藤 昌毅 and 白畑 健 and 大口 敬,予測深層強化学習の単独交差点信号制御への適用性に関する一考察,生産研究,0037105X,東京大学生産技術研究所,2021-03-01,73,2,107-112,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390850475730850176,https://doi.org/10.11188/seisankenkyu.73.107