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久保 勇翔 and 山本 伸一 and 西谷 幹彦,BiVO<sub>4</sub>薄膜における表面状態の評価,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2015-02-26,2015.1,0,2747-2747,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390859016477810944,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2015.1.0_2747