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株柳 翔一 and 西村 知紀 and 矢嶋 赳彬 and 鳥海 明,フォトルミネッセンス測定を用いた絶縁膜/Ge界面の非破壊評価,応用物理学会学術講演会講演予稿集,2436-7613,公益社団法人 応用物理学会,2015-02-26,2015.1,0,2962-2962,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390859016477980032,https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2015.1.0_2962