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石 博元 and 本田 真吾 and 茂木 和弘 and 白石 洋一,深層学習にもとづくプローブ先端外観検査へのヒートマップの適用と精度向上の検討,Proceedings of JIEP Annual Meeting,,The Japan Institute of Electronics Packaging,2023-03-13,37,0,15A6-1,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390862312559925248,https://doi.org/10.11486/ejisso.37.0_15a6-1