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西片 直樹 and 中村 司 and 上岡 一馬 and 栗山 一男 and 串田 一雅 and 徐 虬,プロトン照射GaNにおける誘起欠陥 : 弾性反跳分析・熱刺激電流法による評価,法政大学イオンビーム工学研究所報告,02860201,法政大学イオンビーム工学研究所,2017-02-15,36,,12-15,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390862389985150080,https://doi.org/10.15002/00030305