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佐野 麻理恵 and 岩田 知也 and 布施 淳也 and 吉原 佑樹 and 根本 俊介 and 井上 史大,ウエハ接合強度の長期負荷及び測定環境の影響,マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集,2434-396X,一般社団法人 エレクトロニクス実装学会,2023,33,0,389-391,https://cir.nii.ac.jp/crid/1390864324979271680,https://doi.org/10.11486/mes.33.0_389