著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
池田 浩也 and 鈴木 悠平 and 三輪 一聡,外部電圧印加に伴うキャリア注入による極薄SOI膜のゼーベック係数変化,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2013-02,112,445,7-11,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407022603264,