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三木 浩史 and 手賀 直樹 and 山岡 雅直,ランダムテレグラフノイズ(RTN)の統計的評価手法と微細MOSFETばらつきへの影響,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2013-01-30,112,421,31-34,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407210929664,