著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
橋詰 保 and 堀 祐臣 and 赤澤 正道,AlInN/GaN系ヘテロ構造の表面・界面評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2012-07,112,154,17-20,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407608079104,