著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
鈴木 耕佑 and 大野 雄高 and 岸本 茂,CNFETにおけるhigh-κゲート絶縁膜界面近傍の電荷分布とその影響,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2012-02,111,426,83-87,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407693747584,