著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
片桐 千帆 and 中山 健一,MIS-CELIV法による有機半導体薄膜の正孔移動度評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2017-11-17,117,313,7-10,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407697607680,