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和田 真一 and 越田 圭治 and Saindaa Norovlin,いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究--接触抵抗変動のモデリング,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2011-03,110,465,187-192,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407734785792,