著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
若原 祥史 and 大倉 康幸 and 天川 博隆,微細MOSトランジスタの逆狭チャネル効果の解析--高誘電体ゲート絶縁膜の影響,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2002-09-30,102,344,7-11,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407739738112,