著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
根来 昇 and 中野 雄太 and 長谷川 英機,GaAs(001)Ga安定化面に形成したSi超薄膜のSTMによる評価,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2002-01-29,101,618,7-12,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407980893440,