著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
相京 隆 and 平出 貴久 and 江守 道明,BAST: BIST Aided Scan Test--テストコスト削減のための新しい手法,"電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム. 1, 情報処理 = The IEICE transactions on information and systems. Pt. 1",09151915,東京 : 電子情報通信学会情報・システムソサイエティ,2005-06,88,6,1012-1020,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009407982805760,