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山田 朋幸 and 土屋 忠厳 and 城川 潤二郎,AlGaN/GaN HEMTのゲートリーク,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2005-10-13,105,327,75-78,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009408086661760,