著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
谷口 公貴 and 四柳 浩之 and 橋爪 正樹,自動生成パターンの微小遅延故障検査用回路への適用性検討,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2018-12,118,334,131-136,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009408094422016,