著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
森澤 雅志 and 片桐 英樹 and 羽森 寛,プリント基板の電気検査におけるプローブピン位置補正の遺伝的アルゴリズムを用いた最適化,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2013-01,112,418,133-136,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009408125030272,