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上田 和浩 and 平野 辰巳 and 宇佐美 勝久,シリーズ 表面分析のケーススタディ(43)斜入射X線散漫散乱法による基板表面形状評価,表面技術 = Journal of the Surface Finishing Society of Japan,09151869,東京 : 表面技術協会,2001,52,11,742-745,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009408136280448,