Author,Title,Journal,ISSN,Publisher,Date,Volume,Number,Page,URL,URL(DOI)
横田 俊彦,オンチップPLLを用いたLSSD高速スキャンテストとソースシンクロナスDDRインターフェイスのテストへの応用,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2006-11-29,106,391,39-44,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009408487294720,