著者名,論文名,雑誌名,ISSN,出版者名,出版日付,巻,号,ページ,URL,URL(DOI)
鈴木 峻 and 出口 慶明 and 中村 俊貴 and 溝口 恭史 and 竹内 健,3D-TLC NAND型フラッシュメモリにおける水平エラー検出と垂直LDPC符号を用いた高信頼化手法,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2018-04,118,10,1-6,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009408700434560,