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金子 貴昭 and 井上 尚也 and 齋藤 忍,InGaZnOチャネルの酸素制御とGate/Drain Offset構造によるBEOLトランジスタの高信頼化,電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報,09135685,東京 : 電子情報通信学会,2012-03-05,111,463,13-17,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409132046848,