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鈴木 太陽 and 林 優一 and 石上 忍 and 川又 憲 and 嶺岸 茂樹,TEMセルを用いた定量的耐性評価環境における誤り暗文の再現性に関する検討,"東北学院大学工学総合研究所紀要 Bulletin of Research Institute for Engineering and Technology, Tohoku Gakuin University",,多賀城 : 東北学院大学工学総合研究所,2019-03,,8,33-38,https://cir.nii.ac.jp/crid/1520009409256492032,